WBE:n korkean ja matalan lämpötilan lämpöshokkikammiot: Tämä testi mittaa niiden testinäytteiden suorituskykyä, jotka ovat alttiina äkillisille lämpötilan muutoksille korkeissa ja matalissa lämpötiloissa. Sitä käytetään laajalti tuotteissa, kuten piirilevyissä ja elektronisissa komponenteissa, ja se on tehokas menetelmä tuoteprosessien ja komponenttien aiheuttamien varhaisten vikojen tunnistamiseen ja poistamiseen.
Tuotteen Kuvaus:
Sitä käytetään testaamaan, missä määrin materiaalirakenteet tai komposiittimateriaalit kestävät hetkessä jatkuvia erittäin korkeita ja matalia lämpötiloja, jotta voidaan testata lämpölaajenemisen ja supistumisen aiheuttamia kemiallisia muutoksia tai fyysisiä vaurioita mahdollisimman lyhyessä ajassa.
Sovellus:
Puolijohdesirut, tieteelliset tutkimuslaitokset, laaduntarkastus, uusi energia, optoelektroninen viestintä, ilmailu- ja sotilasteollisuus, autoteollisuus, LCD-näyttö, lääketiede ja muu teknologiateollisuus.
Testistandardit:
GJB 150.3, GJB 150.4, GJB150.5, GB/T 2423.1, GB/T 2423.2, JESD22-A106B, MIL-STD-810G, MIL-STD-202G
Tuotteen ominaisuudet:
1. Kolmikammioinen iskumenetelmä, lämpövarastointishokkimenetelmä, jossa lämpötilan muuntamista ohjataan avaamalla/sulkemalla pelti.
2. Näyte pysyy paikallaan, mikä eliminoi mekaaniset iskut, mikä tekee siitä kätevän testauksen virran ollessa kytkettynä ja kaapeleiden ollessa kiinnitettyinä.
3. Lämpötilashokkitilat: korkea lämpötila → huoneenlämpötila → matala lämpötila; matala lämpötila → huoneenlämpötila → korkea lämpötila; matala lämpötila → korkea lämpötila; Myös huoneenlämpöaltistuksen testaus on mahdollista.
4. Mukautettavia iskutiloja ovat kaksikammioinen (kori), vaakasuora vasemmalle-oikea liike ja upotusiskumenetelmät, jotka perustuvat testivaatimuksiin ja näytekokoon.
5. Soveltuu luotettavuustestaukseen, mukaan lukien lämpötilakierto, lämpöshokki, lämpöjännitysseulonta ja suorituskykytestaus.
6. Käyttää elektronista paisuntaventtiilitekniikkaa, jolloin saavutetaan yli 45% energiansäästö.
