Sitä käytetään testaamaan eri tuotteiden suorituskykyä lämmönkestävyydessä, kylmänkestävyydessä. Käytetään pääasiassa puolijohdesiruissa, tieteellisissä tutkimuslaitoksissa, laaduntarkastuksessa, uudessa energiassa, optoelektronisessa viestinnässä, ilmailu- ja avaruusteollisuudessa, autoteollisuudessa, LCD-näytössä, lääketieteessä ja muilla korkean teknologian teollisuudenaloilla.
Sitä käytetään testaamaan eri tuotteiden suorituskykyä lämmönkestävyydessä, kylmänkestävyydessä. Käytetään pääasiassa puolijohdesiruissa, tieteellisissä tutkimuslaitoksissa, laaduntarkastuksessa, uudessa energiassa, optoelektronisessa viestinnässä, ilmailu- ja avaruusteollisuudessa, autoteollisuudessa, LCD-näytössä, lääketieteessä ja muilla korkean teknologian teollisuudenaloilla.
Testausperuste
1.B/T 2423.1 Matalan lämpötilan testimenetelmä
2.GJB 150.3 korkean lämpötilan testi
3.GB / T 2423.2 korkean lämpötilan testimenetelmä
4. GJB 150.4 matalan lämpötilan testi
