Nopea lämpötilan nousu ja lasku testikammio:Sitä käytetään havaitsemaan tuotteiden suorituskyky nopeissa lämpötilan muutoksissa ja äärimmäisissä lämpötiloissa. Se simuloi erilaisten ilmasto-olosuhteiden vaikutusta tuotteisiin tutkiakseen tuotteiden termomekaanisten ominaisuuksien aiheuttamia vikoja, erityisesti elektroniikka- ja sähkötuotteiden Environmental Stress Screening (ESS) -testissä.
Tämä testi mittaa tuotteen suorituskykyä nopeissa lämpötilan muutoksissa ja äärimmäisissä lämpötiloissa. Se on tehokas menetelmä prosessien tai komponenttien, kuten piirilevyjen ja elektronisten komponenttien, aiheuttamien ennenaikaisten vikojen tunnistamiseen ja poistamiseen. Yleisesti käytetyt lämpötila ramp nopeudet ovat 5 °C/min, 10 °C/min, 15 °C/min, 20 °C/min ja 25 °C/min.
Käyttökohteet:
Puolijohdesirut, tieteelliset tutkimuslaitokset, laaduntarkastus, uusi energia, optoelektroninen viestintä, ilmailu- ja sotilasteollisuus, autoteollisuus, LCD-näyttö, lääketiede ja muu teknologiateollisuus.
Testistandardit:
GB/T 2423.1 matalan lämpötilan testimenetelmä, GJB 150.3 korkean lämpötilan testimenetelmä, GB/T 2423.2 korkean lämpötilan testimenetelmä, GJB 150.4 matalan lämpötilan testi, GB/T2423.34 kosteussyklin testimenetelmä, GJB 150.9 kosteustestimenetelmä, IEC60068-2 lämpötilan ja kosteuden testimenetelmä, MIL-STD-202G-103B kosteustesti
Tuotteen ominaisuudet:
1. Täyttää luotettavuustestit, mukaan lukien ympäristön rasituksen ESS-seulonta, lämpötila- ja kosteustestaus, lämpötilakierto, korkean ja matalan lämpötilan varastointi sekä säänkestävyystestaus.
2. Täyttää sekä lineaarisen lämpötilan muutoksen että keskilämpötilan muutostestauksen.
3. Valinnaisia ominaisuuksia ovat nestemäinen typpi, märkä lämpö ja kondensoitumisenesto.
4. Elektronista paisuntaventtiilitekniikkaa ja innovatiivista ohjausjärjestelmää hyödyntävä tuote tarjoaa yli 45 % energiansäästön.
5. Nopea lämpötila ramppinopeus: -55 °C - +155 °C 10 minuutissa (20 °C / min).
